그래핀 내부 결함 쉽게 분석하는 기술 개발

차세대 투명전극 소재로 주목받는 물질인 그래핀의 내부 결함을 쉽게 분석하는 기술을 국내 연구진이 개발했습니다.

미래창조과학부는 '나노기반 소프트일렉트로닉스 연구단'이 복잡한 공정 없이 그래핀의 결정면과 내부 결함분포를 관찰하는 기술을 개발했다고 밝혔습니다.

연구단에는 안종현 연세대 전지전자공학부 교수와 진왕철 포스텍 신소재공학과 교수, 손정호 삼성디스플레이 책임연구원, 백승재 연세대 전기전자공학부 연구원이 속해 있습니다.

미래부는 "이 기술은 대면적 그래핀의 특성을 분석하는 데 드는 시간과 비용을 획기적으로 줄이기 때문에 유연한 그래핀 기반 투명전극을 상용화하는 데 기여할 것"이라고 기대했습니다.

그래핀은 1나노미터(㎚) 미만으로 두께가 얇고 박막 형성 과정이 복잡해 구조를 분석하고 제어하기가 어렵습니다.

연구팀은 액정 소재를 그래핀 박막 위에 코팅해 별도의 복잡한 공정 없이 그래핀의 결정면을 손쉽게 관찰하고, 변화한 액정의 이미지를 보고 결함 유무를 확인할 수 있도록 했습니다.

이번 연구 결과는 나노과학 분야의 세계적 학술지인 '네이처 커뮤니케이션스' 3월24일자 온라인판에 실렸습니다.